SEM YF1801采用了簡潔的設(shè)計語言，它的整體外觀非常簡約，沒有過多的裝飾和線條，采用理性幾何切割，給人一種非常干凈和精致的感覺。SEM YF1801采用經(jīng)過會聚的高能電子束掃描樣品表面，收集并解析樣品產(chǎn)生的諸如二次電子，背散射電子，X射線等信號，以觀察和分析樣品的微觀形貌，成分襯度，以及成分信息。它可以應(yīng)用于多個行業(yè)：半導(dǎo)體工業(yè)、生物醫(yī)學(xué)工業(yè)、傳統(tǒng)材料工業(yè)和納米材料工業(yè)。該產(chǎn)品榮獲IDEA設(shè)計獎。